报告名称： 用于质量检测的光学测量技术
报  告 人： 乔轶 博士
单      位： 美国3M公司
时      间： 11月2日上午10：00
地      点： 物理馆512学术会议室
 
      在学术和工业领域，光学测量技术已广泛用于质量检测。在报告中，将给出光学检测的三个例子。第一是用于结构安全检测（如飞机、桥梁等）的光纤布拉格光栅传感器的使用，第二是用于纳米颗粒合成过程监视的光学测量技术的应用，第三是有关人造纳米或微米结构的3D轮廓测量技术。这些光学测量技术具有高精密度、准确性和速度及非破坏性的优点。只有精确测量才能改进制备技术和工艺，因此,光学测量将是制备更小（或更大）、更好、更快器件能力的关键使能技术。